| 000 | 01848nam a2200325 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 382710 | ||
| 010 | _a0471299421 | ||
| 090 | _a382710 | ||
| 100 | _a20050318d1999 y0pory50 ba | ||
| 101 | _aeng | ||
| 200 |
_aX-ray fluorescence spectrometry _fRon Jenkins |
||
| 205 | _a2nd ed. | ||
| 210 |
_aNew York _cWiley _dc1999 |
||
| 215 |
_axviii, 207 p. _cil. _d24 cm |
||
| 225 |
_aChemical Analysis _v152 |
||
| 330 | _aCapítulo 1. Produção e propriedades de raios X. Capítulo 2. Aplicações industriais de raios X. Capítulo 3. Difracção de raios X. Capítulo 4. Espectro de raios X. Capítulo 5. História e desenvolvimento da espectrometria de fluorescência de raios X. Capítulo 6. Instrumentação para espectrometria de raios X. Capítulo 7. Comparação do comprimento de onda e espectrómetros de energia dispersiva. Capítulo 8. Tendências mais recentes na instrumentação de fluorescência de raios X. Capítulo 9. Preparação e apresentação da amostra. Capítulo 10. Utilização de espectrometria de raios X para análises qualitativas. Capítulo 11. Considerações em análises quantitativas por espectrometria de raios X. Capítulo 12. Procedimentos quantitativos na análise por fluorescência de raios X. Capítulo 13. Aplicações de métodos por raios X. | ||
| 606 |
_aRAIOS X _9344927 |
||
| 606 |
_aESPECTROMETRIA _9321956 |
||
| 606 |
_aQUÍMICA ANALÍTICA _9343110 |
||
| 700 |
_aJENKINS _bRon _9353697 |
||
| 955 | _xCompra (124,00 €) | ||