01629nam a2200229 4500001000700000010001500007090001100022100004100033101000800074200005000082205001200132210002700144215003000171225002700201330091600228606002001144606002701164606003401191700002501225955002401250995012501274382710 a0471299421 a382710 a20050318d1999 y0pory50 ba aeng aX-ray fluorescence spectrometryfRon Jenkins a2nd ed. aNew YorkcWileydc1999 axviii, 207 p.cil.d24 cm aChemical Analysisv152 aCapítulo 1. Produção e propriedades de raios X. Capítulo 2. Aplicações industriais de raios X. Capítulo 3. Difracção de raios X. Capítulo 4. Espectro de raios X. Capítulo 5. História e desenvolvimento da espectrometria de fluorescência de raios X. Capítulo 6. Instrumentação para espectrometria de raios X. Capítulo 7. Comparação do comprimento de onda e espectrómetros de energia dispersiva. Capítulo 8. Tendências mais recentes na instrumentação de fluorescência de raios X. Capítulo 9. Preparação e apresentação da amostra. Capítulo 10. Utilização de espectrometria de raios X para análises qualitativas. Capítulo 11. Considerações em análises quantitativas por espectrometria de raios X. Capítulo 12. Procedimentos quantitativos na análise por fluorescência de raios X. Capítulo 13. Aplicações de métodos por raios X. aRAIOS X9344927 aESPECTROMETRIA9321956 aQUÍMICA ANALÍTICA9343110 aJENKINSbRon9353697 xCompra (124,00 €) 1052022-06-066PJ258519411933aPJcPJfPJ125851n2022-06-06o0p124.00rMOxCompra zRequisitado. Química. 124,00 €