01848nam a2200325 4500 382710 0471299421 382710 20050318d1999 y0pory50 ba eng X-ray fluorescence spectrometry Ron Jenkins 2nd ed. New York Wiley c1999 xviii, 207 p. il. 24 cm Chemical Analysis 152 Capítulo 1. Produção e propriedades de raios X. Capítulo 2. Aplicações industriais de raios X. Capítulo 3. Difracção de raios X. Capítulo 4. Espectro de raios X. Capítulo 5. História e desenvolvimento da espectrometria de fluorescência de raios X. Capítulo 6. Instrumentação para espectrometria de raios X. Capítulo 7. Comparação do comprimento de onda e espectrómetros de energia dispersiva. Capítulo 8. Tendências mais recentes na instrumentação de fluorescência de raios X. Capítulo 9. Preparação e apresentação da amostra. Capítulo 10. Utilização de espectrometria de raios X para análises qualitativas. Capítulo 11. Considerações em análises quantitativas por espectrometria de raios X. Capítulo 12. Procedimentos quantitativos na análise por fluorescência de raios X. Capítulo 13. Aplicações de métodos por raios X. RAIOS X 344927 ESPECTROMETRIA 321956 QUÍMICA ANALÍTICA 343110 JENKINS Ron 353697 Compra (124,00 €) 0 2022-06-06 PJ25851 411933 PJ PJ PJ125851 2022-06-06 0 124.00 MO Compra Requisitado. Química. 124,00 €