01401nam a2200193 4500001000700000010001500007100004100022101000800063200005000071205001200121210002700133215003000160225002700190330091600217606001201133606001901145606002601164700001701190382710 a0471299421 a20050318d1999 y0pory50 ba aeng aX-ray fluorescence spectrometryfRon Jenkins a2nd ed. aNew YorkcWileydc1999 axviii, 207 p.cil.d24 cm aChemical Analysisv152 aCapítulo 1. Produção e propriedades de raios X. Capítulo 2. Aplicações industriais de raios X. Capítulo 3. Difracção de raios X. Capítulo 4. Espectro de raios X. Capítulo 5. História e desenvolvimento da espectrometria de fluorescência de raios X. Capítulo 6. Instrumentação para espectrometria de raios X. Capítulo 7. Comparação do comprimento de onda e espectrómetros de energia dispersiva. Capítulo 8. Tendências mais recentes na instrumentação de fluorescência de raios X. Capítulo 9. Preparação e apresentação da amostra. Capítulo 10. Utilização de espectrometria de raios X para análises qualitativas. Capítulo 11. Considerações em análises quantitativas por espectrometria de raios X. Capítulo 12. Procedimentos quantitativos na análise por fluorescência de raios X. Capítulo 13. Aplicações de métodos por raios X. aRAIOS X aESPECTROMETRIA aQUÍMICA ANALÍTICA aJENKINSbRon