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[Relatório do] VIII ENFSI Paint and Glass WG meeting / rel. Susana Duarte

Autor institucional: ENFSI EUROPEAN PAINT AND GLASS WORKING GROUP MEETING, 8th, Madrid, 2002Idioma: Português.Publicação: Lisboa : Área de Física. Laboratório de Polícia Científica - LPC. PJ, 2002Descrição física: 12, [8] f. anexos; 12 cmAssunto: 320182 | 352343 | 328471 | 326721 | 343294 | 410454Resumo: Relatório de participação no encontro anual dos grupos de trabalho do ENFSI (European Glass Group - EGG e European Paint Group - EPG), que teve lugar em Madrid de 18 a 20 de Setembro de 2002, na qual foram abordados os seguintes assuntos: estudo analítico de obras de arte; espectroscopia de infravermelhos com ATR; sub-grupos de trabalho do European Paint Group; Comparação de primários em análise por FTIR; análise de misturas de compostos por FTIR; análise de tintas de partes plásticas de veículos automóveis; tinta em ferramentas (pé de cabra) - aplicação do teorema de Bayes; novas aplicações da microscopia eletrónica de varrimento na análise de vidros e tintas; sub-grupos de trabalho do European Glass Group; análise de microvestígios de vidro por microscopia eletrónica (SEM-EDX).
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Monografias Biblioteca da Polícia Judiciária
PJ22.B.72 (Browse shelf) PJ33598 Available PJ133598

Relatório de participação no encontro anual dos grupos de trabalho do ENFSI (European Glass Group - EGG e European Paint Group - EPG), que teve lugar em Madrid de 18 a 20 de Setembro de 2002, na qual foram abordados os seguintes assuntos: estudo analítico de obras de arte; espectroscopia de infravermelhos com ATR; sub-grupos de trabalho do European Paint Group; Comparação de primários em análise por FTIR; análise de misturas de compostos por FTIR; análise de tintas de partes plásticas de veículos automóveis; tinta em ferramentas (pé de cabra) - aplicação do teorema de Bayes; novas aplicações da microscopia eletrónica de varrimento na análise de vidros e tintas; sub-grupos de trabalho do European Glass Group; análise de microvestígios de vidro por microscopia eletrónica (SEM-EDX).

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