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X-ray fluorescence spectrometry / Ron Jenkins

Autor: JENKINS, RonIdioma: Inglês.Edição: 2nd ed.Publicação: New York : Wiley, c1999Descrição física: xviii, 207 p. : il.; 24 cmColeção: Chemical Analysis; 152ISBN: 0471299421Assunto: 344927 | 321956 | 343110Resumo: Capítulo 1. Produção e propriedades de raios X. Capítulo 2. Aplicações industriais de raios X. Capítulo 3. Difracção de raios X. Capítulo 4. Espectro de raios X. Capítulo 5. História e desenvolvimento da espectrometria de fluorescência de raios X. Capítulo 6. Instrumentação para espectrometria de raios X. Capítulo 7. Comparação do comprimento de onda e espectrómetros de energia dispersiva. Capítulo 8. Tendências mais recentes na instrumentação de fluorescência de raios X. Capítulo 9. Preparação e apresentação da amostra. Capítulo 10. Utilização de espectrometria de raios X para análises qualitativas. Capítulo 11. Considerações em análises quantitativas por espectrometria de raios X. Capítulo 12. Procedimentos quantitativos na análise por fluorescência de raios X. Capítulo 13. Aplicações de métodos por raios X.
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Monografias Biblioteca da Polícia Judiciária
PJ25851 Available PJ125851

Capítulo 1. Produção e propriedades de raios X. Capítulo 2. Aplicações industriais de raios X. Capítulo 3. Difracção de raios X. Capítulo 4. Espectro de raios X. Capítulo 5. História e desenvolvimento da espectrometria de fluorescência de raios X. Capítulo 6. Instrumentação para espectrometria de raios X. Capítulo 7. Comparação do comprimento de onda e espectrómetros de energia dispersiva. Capítulo 8. Tendências mais recentes na instrumentação de fluorescência de raios X. Capítulo 9. Preparação e apresentação da amostra. Capítulo 10. Utilização de espectrometria de raios X para análises qualitativas. Capítulo 11. Considerações em análises quantitativas por espectrometria de raios X. Capítulo 12. Procedimentos quantitativos na análise por fluorescência de raios X. Capítulo 13. Aplicações de métodos por raios X.

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